Bell Labs estuda influência das impurezas nos microchips
da Reuters, em Murray Hill (EUA)Cientistas da Bell Labs, unidade de pesquisa e desenvolvimento da Lucent, descobriram um meio de observar semicondutores em suas camadas mais internas, permitindo a criação de uma imagem de qualquer impureza no componente. Isso deve ajudar na compreensão de como as impurezas afetam o desempenho dos microchips.
É a primeira vez que uma impureza individual de um semicondutor é capturada, e a imagem é arquivada com uso de um microscópio especial. A pesquisa foi descrita em um artigo publicado no jornal Nature, na quinta-feira.
A compreensão do núcleo dos semicondutores é crítica para reduzir o tamanho das futuras gerações de eletrônicos.
Os resultados "são importantes para compreender a distribuição de impurezas no núcleo atômico do silício (componente usado nos semicondutores)", disse o professor e engenheiro da University of Wisconsin, Paul Peercy.
Tem se tornado importante avaliar o funcionamento químico e físico dos componentes. Essas características fornecem aos cientistas subsídios para reduzir o tamanho dos semicondutores, disse Elsa Reichmanis, diretora de desenvolvimento de materiais da Bell Labs.
A técnica de observação da Bell Labs é extremamente sensível e pode ser aplicada em muitos materiais, não apenas semicondutores.
